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COMPANY

会社案内

検査体制

SYSTEM

当社は技術商社として品質を保証するために、全ての製品に対して自社内で寸法検査及び外観検査を実施しています。

BANTECの検査体制

  • 外観検査は、全数検査を基本としています。
  • 寸法検査は、抜き取り検査を基本としています。
  • 寸法検査については、各種検査機器を取り揃えていますので、あらゆる箇所の測定が可能です。
  • 粗さ測定の要望がある場合は、外部機関で測定致します。
  • 測定結果は1個~小ロットの場合は図面に直接書き込みます。
  • ご要望に応じて測定結果を表にまとめて提出致します。

検査設備

バンディプロ―ブ三次元測定器 XM-1000 キーエンス
スペック

  • 測定範囲:300×250×150mm
  • 測定精度:指示誤差 ±8μm
  • 繰り返し精度:±3μm
画像寸法測定器 IM-8000 キーエンス製
スペック

  • 最小測定表示単位:±0.1μm
  • 撮像画素:660万画素
  • 視野:広範囲300㎜×200㎜
  • 高精度225㎜×125㎜
その他検査設備
  • デジマチックハイトゲージ HDM-30AX ミツトヨ
  • デジタルノギス 200mm
  • 大型デジタルノギス 600mm2
  • デジタルマイクロメータ φ25mm
  • 3点マイクロ一式
  • キャリパー形内側マイクロメータ  φ5~30mm
  • 各種ピンゲージ
  • 各種栓ゲージ
  • 各種製作ゲージ
  • 各種ブロックゲージ

※ その他あらゆる製品に合わせたゲージが製作可能です。